集成电路测试原理
主编：戴志坚 王厚军 书号：ISBN 978-7-5770-0163-0 定价：68.00 元 出版社：电子科技大学出版社
本书详细介绍了集成电路测试的基本原理、测试系统和测试开发方法。首先介绍了集成电路测试的相关概念和术语，集成电路测试的最新发展趋势；其次详细介绍了集成电路直流参数测试和模拟集成电路测试的基本方法；再次介绍了数字集成电路的基本测试方法，然后在此基础上重点介绍了数模混合电路（ADC/DAC）测试方法。此外，本书还对集成电路测试系统（ATE）的结构和工作原理、测试接口板（DIB）和测试程序开发做了介绍。
本书可作为集成电路测试相关专业本科和专科的教材，同时可用于集成电路测试专业技术人员培训，也可作为从事集成电路测试技术研究人员的参考书。
戴志坚，1968年生，电子科技大学测试计量技术及仪器专业硕士，现任职于电子科技大学自动化工程学院，电子科技大学（深圳）高等研究院集成电路测试技术重点实验室主任，教授。主要研究方向为集成电路测试技术。主持多项国家级和省部级项目，发表学术论文10余篇，出版教材1部，主持编写国家标准1项，申请国家发明专利20余项，获省部级学术奖项多项。
